離子遷移測(cè)試儀-256通道 1250V

GEN3 Auto CAF2+離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)備

有效監(jiān)測(cè)離子遷移引致表面絕緣阻抗（SIR）變化及生成PCB內(nèi)層陽極導(dǎo)電絲（CAF）

一、GEN3 CAF2（1250V）用途：

根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)中有明確要求，測(cè)試條款為IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance》。另外各大汽車零部件廠商如德爾福、博世、大陸等也有其專門的企業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，主要測(cè)試內(nèi)容就是將被測(cè)PCB板放置在85℃，85%RH的環(huán)境中處理1000小時(shí)，并在PCB板的孔與孔之間、線與線之間，或者是孔與內(nèi)層之間、層與層之間施加一定的電壓，然后持續(xù)監(jiān)控其絕緣阻值變化，通過絕緣阻值變化了解其內(nèi)部可能存在的一系列問題，而這種測(cè)試的缺陷就是板材內(nèi)部出現(xiàn)了CAF現(xiàn)象。通過CAF測(cè)試可以基本了解具體是在哪個(gè)工藝環(huán)節(jié)可能產(chǎn)生了問題，從而進(jìn)一步工藝改善。具體包括指導(dǎo)PCB設(shè)計(jì)人員選用合適的孔間距和線間距；指導(dǎo)PCB制造商選用適合的耐CAF材料組合；指導(dǎo)PCB制造商改進(jìn)生產(chǎn)工藝；指導(dǎo)CCL供應(yīng)商改進(jìn)材料配方和加工工藝。

可根據(jù)各種標(biāo)準(zhǔn)要求條件和自定義條件進(jìn)行SIR，CAF測(cè)試。

GEN3保持和IEC，ISO，IPC，BSI......等機(jī)構(gòu)學(xué)會(huì)的長(zhǎng)期合作，發(fā)展并訂立相關(guān)SIR測(cè)試協(xié)定，應(yīng)用于成品壽命可靠度，材料和制程特性研究。

GEN3 CAF2適用于：

IEC61189-5；ISO9455-17；IPC-TM-650；

BELLCORE GR78；DIN German & JIS Japanese STD；ANS/IPC-JSTD001；

IPS-JSTD-004；IPC-SM-840；IPC-CC-830&IEC 1086；IPC-9691；

ISO 19295:2016（E）Automotive.

二、GEN3 CAF2（1250V）測(cè)試原理：

三、GEN3 CAF2（1250V）規(guī)格：

四、關(guān)于CAF測(cè)試推薦配套：

根據(jù)CAF測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)中要求，需要將被測(cè)的-考試板放置在“80℃+85%RH"的環(huán)境中放置1000小時(shí)。故考慮到長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試，對(duì)配套的“試驗(yàn)箱"提出了要求，推薦使用-艾斯佩克GPR系列高低溫濕熱試驗(yàn)箱。

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